书目信息

书名: 电子元器件检验技术 测试部分
作者: 王晓晗 罗宏伟 编著
出版信息: 北京   电子工业出版社  2019.01
开本页数: 26cm  XI, 382页
丛书名: 可靠性技术丛书
单 册:
中图分类: TN6 TN606
科图分类:
主题词: 电子元器件--dian zi yuan qi jian--检测
电子资源:
ISBN: 978-7-121-33485-6
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    电子元器件检验技术.测试部分/王晓晗, 罗宏伟编著.-北京:电子工业出版社,2019.01
    XI, 382页;26cm.-(可靠性技术丛书)
    
    
    ISBN 978-7-121-33485-6:CNY98.00
    本书在结合众多工程师多年科研成果和工程实践的基础上, 结合我国电子元器件产业现状, 从电子元器件检验和生产行业出发, 围绕电子元器件检验主题, 详细阐述了电子元器件测试的基本概念、标准体系, 以及不同类别电子元器件的检验技术等。
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正题名:电子元器件检验技术     索取号:TN6/58         预约/预借

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