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000
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01491nam0 2200325 450
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001
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0112328686
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20121030130723
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@a978-7-111-36623-2@dCNY49.00
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@a20120605d2012 em y0chiy50 ea
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1
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@achi@ceng
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@aCN@b110000
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@aak a 000yy
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@ar
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@a测试驱动的嵌入式C语言开发@ACe Shi Qu Dong De Kan Ru ShiC Yu Yan Kai Fa@d= Test-driven development for embedded C@f(美)James W. Grenning著@g尹哲等译@zeng
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210
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@a北京@c机械工业出版社@d2012.01
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@a15,256页@c图@d24cm
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@a华章专业开发者丛书@AHua Zhang Zhuan Ye Kai Fa Zhe Cong Shu
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@aJames W. Grenning,在全球范围内从事培训以及咨询工作。
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@a尹哲是Odd-e.com团队中的一名敏捷教练。
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@a有书目 (末页)。
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@a本书介绍了两个开源的测试框架，通过测试驱动开发方法开发第一个模块；系统中其他模块进行交互的代码的测试技术；设计与持续改进代码，如写出更好代码的一些重要原则，建立可测并灵活设计的高级技术，改进已有代码的实践方法一一重构技术，改进遗留代码，以及编写和维护测试的指导原则。
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@a本书是作者多年实践经验的总结,实用性强,适合嵌入式C/C++语言程序员、工程师阅读。
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0
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@12001 @a华章专业开发者丛书
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@aTest-driven development for embedded C@zeng
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0
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@aC语言@AC Yu Yan@x程序设计
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@aTP312C@v4
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@a格林宁, @AGe Lin Ning ,@bJ.W.@g(Grenning, James W.)@4著
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0
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@a尹哲@AYin Zhe@4译
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0
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@aCN@bCDNYKJZYXY@c20120605
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905
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@aCDNYKJZYXY@dTP312C@e178@f3
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| 测试驱动的嵌入式C语言开发= Test-driven development for embedded C/(美)James W. Grenning著/尹哲等译.-北京：机械工业出版社，2012.01 |
| 15,256页：图；24cm.-(华章专业开发者丛书) |
| 使用对象：本书是作者多年实践经验的总结,实用性强,适合嵌入式C/C++语言程序员、工程师阅读。 |
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| ISBN 978-7-111-36623-2：CNY49.00 |
| 本书介绍了两个开源的测试框架，通过测试驱动开发方法开发第一个模块；系统中其他模块进行交互的代码的测试技术；设计与持续改进代码，如写出更好代码的一些重要原则，建立可测并灵活设计的高级技术，改进已有代码的实践方法一一重构技术，改进遗留代码，以及编写和维护测试的指导原则。 |
| ● |
正题名：测试驱动的嵌入式C语言开发
索取号：TP312C/178
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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446871
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300446871
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流通五库四楼/
[索取号:TP312C/178]
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在馆
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2
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446872
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300446872
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流通五库四楼/
[索取号:TP312C/178]
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在馆
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3
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300446873
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流通五库四楼/
[索取号:TP312C/178]
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在馆
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