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3078
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@a12,164页@c图@d26cm
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@a全国高职高专院校规划教材·精品与示范系列 院级精品课配套教材
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@a本书主要内容包括尺寸公差及配合、形位公差的种类及标注方法、表面粗糙度设计、光滑工件尺寸检测、典型零件公差及检测、尺寸链的建立与分析等。
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@dTG8@e15@f5
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| 公差配合与精度检测/张秀芳，赵姝娟主编.-北京：电子工业出版社，2009 |
| 12,164页：图；26cm |
| 全国高职高专院校规划教材·精品与示范系列 院级精品课配套教材 |
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| ISBN 978-7-121-08641-0：CNY18.00 |
| 本书主要内容包括尺寸公差及配合、形位公差的种类及标注方法、表面粗糙度设计、光滑工件尺寸检测、典型零件公差及检测、尺寸链的建立与分析等。 |
| ● |
正题名：公差配合与精度检测
索取号：TG8/15
预约/预借
| 序号
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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306095
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300306095
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柳城-4楼/55架13列1层/
[索取号:TG8/15]
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在馆
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2
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306096
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300306096
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海科密-1楼/49架1列5层/
[索取号:TG8/15]
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在馆
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3
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306097
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300306097
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柳城-4楼/55架13列1层/
[索取号:TG8/15]
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在馆
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4
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306098
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300306098
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海科密-1楼/49架1列5层/
[索取号:TG8/15]
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在馆
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5
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306099
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300306099
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柳城-4楼/55架13列1层/
[索取号:TG8/15]
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在馆
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