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@a集成电路芯片测试技术@Aji cheng dian lu xin pian ce shi ji shu@f主编居水荣, 戈益坚@g参编戴志强, 石兰
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@a西安@c西安电子科技大学出版社@d2021.3
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@a高职高专电子信息类系列教材@Agao zhi gao zhuan dian zi xin xi lei xi lie jiao cai
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@a“十三五”江苏省高等学校重点教材 (编号: 2020-2-056)
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@a有书目 (第200页)
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@a本书是从微电子产业实际岗位需求出发, 结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写, 具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等, 同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。
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@12001 @a高职高专电子信息类系列教材
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@aCDNYKJZYXY@b300625366-8@dTN4@e108@f3
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| 集成电路芯片测试技术/主编居水荣, 戈益坚/参编戴志强, 石兰.-西安：西安电子科技大学出版社，2021.3 |
| 200页：图；26cm.-(高职高专电子信息类系列教材) |
| “十三五”江苏省高等学校重点教材 (编号: 2020-2-056) |
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| ISBN 978-7-5606-5954-1：CNY35.00 |
| 本书是从微电子产业实际岗位需求出发, 结合作者多年企业工作经验及一线教学经验编写而成的。书中详细介绍了目前业界常见的各类集成电路芯片的测试原理、测试方法以及测试程序的编写, 具体包括各类组合/时序逻辑电路测试、ADC/DAC芯片测试、存储器/微控制器测试、集成运放/电源管理芯片测试等, 同时还介绍了晶圆探针台、测试机的使用。 |
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正题名：集成电路芯片测试技术
索取号：TN4/108
预约/预借
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登录号
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条形码
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馆藏地/架位号
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状态
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备注
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1
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625366
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300625366
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流通五库四楼/
[索取号:TN4/108]
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在馆
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2
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625367
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300625367
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流通五库四楼/
[索取号:TN4/108]
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在馆
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625368
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300625368
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流通五库四楼/
[索取号:TN4/108]
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在馆
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